LS 13 320 XR consente di ottenere eccellenti risultati granulometrici con soli 2 click

ll nuovo LS 13 320 XR eleva l’analisi granulometrica ad un livello superiore. La tecnologia PIDS ottimizzata e il campo di misurazione ampliato, garantiscono una risoluzione più alta e risultati riproducibili e precisi.

È possibile misurare un più ampio range dimensionale di particelle e riconoscere, più velocemente e in maniera più affidabile, anche piccole differenze tra campioni. Il nuovo software, con interfaccia intuitiva, fornisce tutti i dati che occorrono in pochi click.

Vantaggi

  • Campo di misurazione ampliato: 10 nm – 3.500 μm
  • Rilevazione accurata delle particelle fino a 10 nm
  • Registrazione più precisa dei dati grezzi e maggiore sensibilità dei rilevatori per analisi granulometriche al di sotto del micrometro
  • 132 sensori per una risoluzione più alta e risultati più precisi
  • Software ottimizzato e intuitivo, risultati in soli due click
  • Visualizzazione automatica pass/fail per un controllo immediato della qualità
  • Supporta le GMP per la qualifica dell’installazione (IQ) e la qualifica operativa (OQ)
  • Conformità al 21 CFR Part 11
I dettagli sono importanti. Variazioni minime in un campione di materiale possono causare grandi differenze nel prodotto finale.

Per questo l’analizzatore a diffrazione laser LS 13 320 XR, al fine di ottenere una più alta risoluzione e risultati più accurati, utilizza 132 sensori e un campo di misurazione ampliato da 10 nm a 3.500 μm.

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